显示屏盐雾测试报告办理，盐雾试验gb/t2423.17-2008/iec60068-2-11：1981电工电子产品环境试验第2部分：试验方法：试验ka：盐霉
本试验适用于比较具有相似结构的试样的抗盐露腐蚀的能力。
本试验也适用于评定保护性能涂层的质量以及均匀性。
使用时应考虑以下的限制：
1.本试验不适合作为通用的盐露腐独试验；
2.本试验也不适用于在含盐大气中使用的单个试验样品的评定。
对于设备以及零部件，试验提供了更符合实际情况的试验条件以及单个试验样品的评定方法。但如果某些情况下为了确保质量，相关规范要求个别试样采用本试验方法时，试样应当作为整个组件或者设备的组成部分连同实际的保护性能设备一起进行试验。
试验做用的盐溶液浓度为百分之五，试验温度为35度，盐溶液的ph值为6.5-7.2之间。
试验期间，每个试验样品不应接触，也不能与其他金属部件接触，因此试样应安放好以消除部件之间的影响。
所有的暴露区域都应维持盐霉条件，用面积80cm2的器皿在暴露区域的任何一点连续收集至少16小时的雾化沉积溶液，平均每小时收集量应在1ml-2ml之间。至少采用两个收集器皿，器皿放置的位置不应受试样的遮挡，以避免收集到试样上的凝结的溶液，器皿内的溶液可用于测试ph值和浓度。
盐雾试验的时间一般为：16h，24，48，96，148，336，672小时。
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